Sfoglia per Rivista IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
Modeling Erratic bits Temperature Dependency for Monte Carlo Simulation of Flash arrays
file con accesso da definire2013 Zambelli, Cristian; G., Koebernik; R., Ullmann; M., Bauer; G., Tempel; Olivo, Piero
On the Determination of the Si-SiO2 Barrier Height from the Fowler-Nordheim Plot
file con accesso da definire1991 Olivo, Piero; J., Sune'; B., Ricco'
Reduction of the Cell-to-Cell Variability in Hf1-xAlxOy Based RRAM Arrays by Using Program Algorithms
2017 Perez, E.; Grossi, Alessandro; Zambelli, Cristian; Olivo, Piero; Roelofs, R.; Wenger, C. h.
Statistical Investigation of Anomalous Fast Erase Dynamics in Charge Trapping NAND Flash
file con accesso da definire2013 Zambelli, Cristian; Olivo, Piero
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Modeling Erratic bits Temperature Dependency for Monte Carlo Simulation of Flash arrays | 2013 | Zambelli, Cristian; G., Koebernik; R., Ullmann; M., Bauer; G., Tempel; Olivo, Piero | file con accesso da definire |
On the Determination of the Si-SiO2 Barrier Height from the Fowler-Nordheim Plot | 1991 | Olivo, Piero; J., Sune'; B., Ricco' | file con accesso da definire |
Reduction of the Cell-to-Cell Variability in Hf1-xAlxOy Based RRAM Arrays by Using Program Algorithms | 2017 | Perez, E.; Grossi, Alessandro; Zambelli, Cristian; Olivo, Piero; Roelofs, R.; Wenger, C. h. | |
Statistical Investigation of Anomalous Fast Erase Dynamics in Charge Trapping NAND Flash | 2013 | Zambelli, Cristian; Olivo, Piero | file con accesso da definire |
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